Pracownia Dyfraktometrii
Monokrystalicznej (SC-XRD)

Kierownik pracowni: dr inż. Andrzej Fruziński

Pracownia wykonuje następujące analizy:
- pomiar dyfrakcji na monokryształach o bardzo małych rozmiarach, dających słaby obraz dyfrakcyjny
- precyzyjne  wyznaczanie stałych sieciowych monokryształów
- wyznaczanie struktury krystalicznej
- wyznaczanie absolutnej konfiguracji
- wyznaczanie współrzędnych atomowych do modelowania molekularnego
- analiza kontaktów wewnątrz- i międzycząsteczkowych
- badania przejść fazowych w krysztale

W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt z kierownikiem pracowni.

Dyfraktometr monokrystaliczny
Rigaku XtaLAB Synergy-S

• goniometr czteroosiowy (kappa)
• Dualflex PhotonJet (2016) (Cu, Mo) X-ray Source
• powierzchniowy licznik Dectris Pilatus3 R 300K
• przystawka niskotemperaturowa Oxford Cryosystems (zakres temperatur: 80-375 K, stabilność temperatury: +/- 0,1 K)

Dyfraktometr monokrystaliczny
Bruker AXS Smart APEX II CCD

• goniometr trzyosiowy
• IµS Incoatec Microfocus Source, promieniowanie CuKα, moc 30 W
• lampa ceramiczna z kolimatorem wiązki MonoCap, promieniowanie MoKα, moc 2,5 kW
• powierzchniowy licznik CCD o wysokiej czułości APEX II
• przystawka niskotemperaturowa Oxford Cryosystems (zakres temperatur: 80-375 K, stabilność temperatury: +/- 0,1 K)