Pracownia Dyfraktometrii
Polikrystalicznej (XRPD)

Kierownik pracowni: dr inż. Waldemar Maniukiewicz

Pracownia wykonuje następujące analizy:
•    analiza składu substancji krystalicznych;
•    wyznaczanie wielkości krystalitów;
•    badania in-situ;
•    wyznaczanie stopnia krystaliczności;
•    precyzyjne określenie stałych sieciowych.

W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt z kierownikiem pracowni.

Dyfraktometr X'pert PRO MPD firmy PANanalytical

• Goniometr pionowy w układzie q-q, niezależny napęd q i 2q, dokładność kątowa 0,001^o
• Lampa rentgenowska ceramiczna z anodą Cu, moc 2 kW, ognisko „long fine focus”, eliminacja składowej K_ß - monochromator grafitowy lub filtr Ni
• Optyka wiązki pierwotnej i ugiętej: zespół programowanych lub stałych szczelin (geometria Bragg- Brentano), zwierciadło ogniskujące (pomiar  transmisyjny)
• Dwa detektory: gazowy i X’Celerator;
• Komora reakcyjna XRK900 Anton Paar do pomiarów w zakresie temperatur od 25 do 900 °C z możliwością przepływu gazów nad próbką lub wytworzenia próżni
• 15 pozycyjny automatyczny zmieniacz próbek
• Oprogramowanie firmy PANanalytical: X’Pert HighScore Plus, X’Pert Data Viewer, X’Pert Data Collector, LPA.
• Baza ICDD PDF-2.

Dyfraktometr D5000 firmy Siemens

     Dane techniczne:

• Goniometr pionowy w układzie 2θ-θ, dokładność kątowa 0,01°
• Lampa rentgenowska z anodą Cu, moc 2,2 kW, chłodzenie wodne, eliminacja składowej K_ß  - monochromator grafitowy lub filtr Ni
• Optyka wiązki pierwotnej i ugiętej: zespół programowanych lub stałych szczelin  do dyfraktometrii proszkowej (geometria Bragg- Brentano)
• Detektory scyntylacyjny
• Oprogramowanie firmy Bruker DIFFRAC^plus release 2002: EVA  v. 8.0;  DQant v. 8.0; TopasP ver. 2.1.